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PDFN 轉(zhuǎn)塔式 AOI 設(shè)備
產(chǎn)品介紹
  • 適用于:半導(dǎo)體IC外觀檢測

  • 檢測精度:0.05mm

  • 特點(diǎn)

    • 可檢測產(chǎn)品6個(gè)不同面
    • 可檢測IC不良多達(dá)30種(可依客戶需求開發(fā))
    • 可兼容IC大小從8mm到40mm
    • 高速轉(zhuǎn)塔快速分料
    • 料管重力式上下料
  • UPH: 18000

  • 檢測準(zhǔn)確率:> 99%

  • 檢測項(xiàng)目

    • 塑料體類缺陷(毛邊、殘膠、崩裂、刮傷)

    • 引腳類缺陷(裸銅、毛刺、彎曲、變形、斷角、長短腳、偏移…)

    • 散熱片缺陷(鍍層玷污、溢膠、毛邊、刮傷)
    • 印記缺陷